Materialien
Vorlesungsmaterial
Testen von digitalen ICs - Wintersemester 03/04
Material
6. Übungsblätter
| Uebungsblatt 1 | Abgabe 29.10. | |
| Uebungsblatt 10 | Abgabe: 24.01. | |
| Uebungsblatt 11 | Abgabe: 31.1. | |
| Uebungsblatt 12 | Abgabe: 5.2. | |
| Uebungsblatt 2 | Abgabe Do 6.11. | |
| Uebungsblatt 3 | Abgabe 13.11. | |
| Uebungsblatt 4 | Abgabe: 20.11. | |
| Uebungsblatt 5 | Abgabe: 27.11. | |
| Uebungsblatt 6 | Abgabe: 4.12. | |
| Uebungsblatt 7 | Abgabe: 11.11. | |
| Uebungsblatt 8 | Abgabe: 18.11 | |
| Uebungsblatt 9 | Abgabe: 17.1. | |
Vorlesungsfolien
| Kapitel 1 | Einführung | |
| Kapitel 2 | Fehlersimulation | |
| Kapitel 3 (1) | Autom. Testmustergenerierung (1) | |
| Kapitel 3 (2) | Autom. Testmustergenerierung (2) | |
| Kapitel 3 (3) | Autom. Testmustergenerierung (3) | |
| Kapitel 4 (1) | Sequentielle Testgenerierung | |
| Kapitel 4 (2) | Sequentielle Testgenerierung - Gate Level Tools | |
| Kapitel 5 | Design for Test | |
| Kapitel 5 (2) | DFT Multiple Scan Chains and 2 Pattern Tests | |
| Kapitel 6 | Built-in Self-Test | |
| Kapitel 6 (2) | Off chip vs/and on chip | |
| Kapitel 6 (3) | Respin | |
| Kapitel 6 (4) | Reseeding/Bit-Flipping | |
| Kapitel 6 (5) | Guest Lecture John P. Hayes on BIST | |