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Rechnerarchitektur
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Vorlesungsmaterial


Seminar: Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme - Sommersemester 06

Übersicht


Beschreibung Viele moderne Produkte basieren auf mikroelektronischen Komponenten. Oftmals ist das korrekte Funktionieren dieser Produkte lebenswichtig, etwa in Medizintechnik oder Autoelektronik. Daher werden hohe Anforderungen an die Qualität der darin eingesetzten mikroelektronischen Systeme gestellt. Diese Anforderungen lassen sich in zwei Gruppen unterteilen:

1. Das System soll zum Zeitpunkt seiner Herstellung fehlerfrei funktionieren.

2. Darüber hinaus soll das System für einen gegebenen Zeitraum zuverlässig (d.h. ohne Ausfall) eingesetzt werden können.

Die erste Fragestellung ist Gegenstand der Vorlesung “Testmethoden für digitale ICs”, die vom Lehrstuhl für Rechnerarchitektur regelmässig angeboten wird. Das Thema dieses Seminars ist hingegen die Zuverlässigkeit eines mikroelektronischen Systems. Durch den Übergang von Mikro- zur Nanoelektronik steigt die Relevanz der Zuverlässigkeitsaspekte weiter an. Im einzelnen werden im Seminar die folgenden Fragestellungen behandelt:

• Was ist Zuverlässigkeit eines Systems?
• Warum kann ein elektronisches System im Betrieb ausfallen?
• Wie identifiziert man Ausf¨alle im Betrieb?
• Wie kann man schon beim Entwurf die Zuverlässigkeit des Systems erhöhen?
• Mikroelektronische Systeme werden nach der Herstellung einem Produktionstest unterzogen. Wie kann man aus den Ergebnissen dieses Tests auf die Zuverlässigkeit des Systems schliessen? Welche Testmethoden sind in diesem Zusammenhang besonders geeignet?

Das Seminar steht sowohl Studierenden der Informatik als auch der Mikrosystemtechnik offen.

Die Liste der Themen findet sich unter "Vorlesungsmaterial"
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