TIGUAN TSI
| Beteiligte Mitarbeiter | Beschreibung | Publikationen
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Lehrstuhl für Rechnerarchitektur | |
Alexander Czutro, Dipl.-Inf. | Entwickler / Kontakt |
TIGUAN (Thread-parallel Integrated test pattern Generator Utilising satisfiability ANalysis) ist ein Testmustergenerator, der das Testmustergenerierungsproblem auf Instanzen der Boolschen Erfüllbarkeit (SAT) abbildet und damit von den effizienten Lernstrategien moderner SAT-Solver profitiert, die das Tool in die Lage versetzen, redundante und schwer zu entdeckende Fehler in kürzerer Zeit als traditionelle strukturelle Testmustergenerierungsmethoden zu klassifizieren. Das Tool ist außerdem erweitert worden, um eine Kombination der dynamischen Kompaktierung und der SAT-basierten Testmustergenerierung zu ermöglichen.
Unterstützt wird ein eigenes leicht erweiterbares Fehlermodell (CMS@ – Conditional Multiple Stuck-At), bei dem in Abhängigkeit der Belegung einer beliebiegen Anzahl an Aggressor-Leitungen eine beliebige Anzahl an Opferleitungen konstant auf 0 oder auf 1 sind. Alle klassischen Fehlermodelle, darunter Stuck-at, Brücken- und Verzögerungsfehler, sowie defektbasiertes Testen unterstützende Modelle wie etwa das ausschöpfende Testen, lassen sich leicht auf CMS@ abbilden.
Unter den Anwendungen des Tools sind die Arbeiten der Universität Paderborn zu nennen, bei denen die Abschätzung der Fehlersicherheit von fehlertoleranten Schaltungen auf das Problem der Testmustergenerierung zurückgeführt wurde.
Bei der neuen Generation des Tools, TIGUAN TSI (TSI = Total System Integration), handelt es sich um eine C++-Bibliothek, die sich mit beliebigen HDL-Parsern kombinieren lassen. Außerdem bietet die Bibliothek die Möglichkeit der Timeframe-Erweiterung von sequentiellen Schaltungen.
Das verwendete SAT-Solver-Backend ist antom.
A. Czutro, I. Polian, M. Lewis, P. Engelke, S.M. Reddy, B. Becker TIGUAN: Thread-parallel Integrated test pattern Generator Utilizing satisfiability ANalysis International Conference on VLSI Design, 2009 |
M. Hunger, S. Hellebrand, A. Czutro, I. Polian, B. Becker ATPG-Based Grading of Strong Fault-Secureness IEEE International Online Testing Symposium, 2009 |
A. Czutro, I. Polian, P. Engelke, S.M. Reddy, B. Becker Dynamic Compaction in SAT-Based ATPG Asian Test Symposium, 2009 |
A. Czutro, I. Polian, M. Lewis, P. Engelke, S. Reddy, B. Becker Thread-parallel integrated test pattern generator utilizing satisfiability analysis International Journal of Parallel Programming, 2010 |