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Rechnerarchitektur - Arbeitsgruppe Bernd Becker
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Name Stefan Hillebrecht, Dr. Stefan Hillebrecht, Dr.
Adresse Technische Fakultät Albert-Ludwigs-Universität Georges Köhler Allee, Gebäude 51 79110 Freiburg im Breisgau Deutschland
Büro Gebäude 51, Raum 01..033
Telefon 0761 203-8147
Fax 0761 203-8142
eMail stspinne@informatik.uni-freiburg.de

Stefan Hillebrecht

Jahre: 2014 | 2013 | 2012 | 2011 | 2009 | 2008 | 2007 | 2006 | 2005

    2014

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    • Dominik Erb, Michael Koche, Matthias Sauer, Stefan Hillebrecht, Tobias Schubert, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Exact Logic and Fault Simulation in Presence of Unknowns
      2014 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES), Band: 19, Seiten: 28:1 - 28:17

    2013

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    • Stefan Hillebrecht, Michael A. Kochte, Dominik Erb, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Accurate QBF-based test pattern generation in presence of unknown values
      2013 Conf. on Design, Automation and Test in Europe
    • Matthias Sauer, Alexander Czutro, Tobias Schubert, Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Bernd Becker
      SAT-based Analysis of Sensitisable Paths
      2013 IEEE Design & Test of Computers, Band: 30, Nummer: 4, Seiten: 81 - 88

    2012

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    • Stefan Hillebrecht, Michael Kochte, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Exact Stuck-at Fault Classification in Presence of Unknowns
      2012 IEEE European Test Symp.

    2011

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    • Matthias Sauer, Alexander Czutro, Tobias Schubert, Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Bernd Becker
      SAT-Based Analysis of Sensitisable Paths
      2011 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Seiten: 93 - 98

    2009

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    • Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, P. Ruther, S. Herwik, Bernd Becker, Oliver Paul
      Reliability Characterization of Interconnects in CMOS Integrated Circuits Under Mechanical Stress
      2009 Int'l Reliability Physics Symp.

    2008

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    • Stefan Spinner, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects
      2008 VLSI Test Symp., Seiten: 181 - 186
    • Stefan Spinner, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects
      2008 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    • Ilia Polian, Yusuke Nakamura, Piet Engelke, Stefan Hillebrecht, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Bernd Becker, Xiaoqing Wen
      Diagnose realistischer Defekte mit Hilfe des X-Fehlermodells
      2008 GMM/GI/ITG Reliability and Design Conf., Seiten: 155 - 156
    • Ilia Polian, Yusuke Nakamura, Piet Engelke, Stefan Spinner, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Bernd Becker, Xiaoqing Wen
      Diagnosis of Realistic Defects Based on the X-Fault Model
      2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Seiten: 263 - 268
    • Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Extraction, Simulation and Test Generation for Interconnect Open Defects Based on Enhanced Aggressor-Victim Model
      2008 Int'l Test Conf., Seiten: 1 - 10

    2007

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    • Stefan Spinner, Ilia Polian, Bernd Becker, P. Ruther, Oliver Paul
      A System for the Calibration and Reliability Testing of MEMS Devices Under Mechanical Stress
      2007 VDE Microsystem Technology Congress, Seiten: 861 - 864
    • Stefan Spinner, Jie Jiang, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker
      Simulating Open-Via Defects
      2007 IEEE Asian Test Symp., Seiten: 265 - 270

    2006

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    • Stefan Spinner, M. Doelle, P. Ruther, Ilia Polian, Oliver Paul, Bernd Becker
      A System for Electro-Mechanical Reliability Testing of MEMS Devices
      2006 Int'l Symp. for Testing and Failure Analysis, Seiten: 147 - 152
    • Stefan Spinner, J. Bartholomeyczik, Bernd Becker, M. Doelle, Oliver Paul, Ilia Polian, P. Roth, K. Seitz, P. Ruther
      Electromechanical Reliability Testing of Three-Axial Force Sensors
      2006 Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, Seiten: 77 - 82
    • Stefan Spinner, J. Bartholomeyczik, Bernd Becker, M. Doelle, Oliver Paul, Ilia Polian, R. Roth, K. Seitz, P. Ruther
      Reliability Testing of Three-Dimensional Silicon Force Sensors
      2006 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”

    2005

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    • M. Doelle, Stefan Spinner, P. Ruther, Ilia Polian, Oliver Paul, Bernd Becker
      A System for Determining the Impact of Mechanical Stress on the Reliability of MEMS
      2005 IEEE European Test Symp., Seiten: 57 - 61
    • M. Doelle, Stefan Spinner, P. Ruther, Ilia Polian, Oliver Paul, Bernd Becker
      A System for Determining the Impact of Mechanical Stress on the Reliability of MEMS
      2005 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Seiten: 88 - 89