Uni-Logo
English       Login
Rechnerarchitektur
        Startseite         |         Institut für Informatik         |         Technische Fakultät
 
Name Stefan Hillebrecht, Dr. Stefan Hillebrecht, Dr.
Adresse Technische Fakultät Albert-Ludwigs-Universität Georges Köhler Allee, Gebäude 51 79110 Freiburg im Breisgau Deutschland
Büro Gebäude 51, Raum 01..033
Telefon 0761 203-8147
Fax 0761 203-8142
eMail stspinne@informatik.uni-freiburg.de

Stefan Hillebrecht

Jahre: 2014 | 2013 | 2012 | 2011 | 2009 | 2008

    2014

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht
    • Dominik Erb, Michael Koche, Matthias Sauer, Stefan Hillebrecht, Tobias Schubert, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Exact Logic and Fault Simulation in Presence of Unknowns
      2014 ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems (TODAES), Band: 19, Seiten: 28:1 - 28:17

    2013

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht
    • Stefan Hillebrecht, Michael A. Kochte, Dominik Erb, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Accurate QBF-based test pattern generation in presence of unknown values
      2013 Conf. on Design, Automation and Test in Europe
    • Matthias Sauer, Alexander Czutro, Tobias Schubert, Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Bernd Becker
      SAT-based Analysis of Sensitisable Paths
      2013 IEEE Design & Test of Computers, Band: 30, Nummer: 4, Seiten: 81 - 88

    2012

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht
    • Stefan Hillebrecht, Michael Kochte, Hans-Joachim Wunderlich, Bernd Becker
      Exact Stuck-at Fault Classification in Presence of Unknowns
      2012 IEEE European Test Symp.

    2011

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht
    • Matthias Sauer, Alexander Czutro, Tobias Schubert, Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Bernd Becker
      SAT-Based Analysis of Sensitisable Paths
      2011 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Seiten: 93 - 98

    2009

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht
    • Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, P. Ruther, S. Herwik, Bernd Becker, Oliver Paul
      Reliability Characterization of Interconnects in CMOS Integrated Circuits Under Mechanical Stress
      2009 Int'l Reliability Physics Symp.

    2008

    Icon: top nach oben zur Jahresübersicht