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Rechnerarchitektur - Arbeitsgruppe Bernd Becker
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Name Sandip Kundu, Prof. Dr. Sandip Kundu, Prof. Dr.
Adresse 309J Knowles Engineering Bldg
University of Massachusetts
151 Holdsworth Way
Amherst MA 01003-9284

eMail kundu@ecs.umass.edu
Website http://www.ecs.umass.edu/ece/dept/people/faculty/kundu.html
Biographie Sandip Kundu has a B.Tech (Hons.) degree in electronics and electrical communication engineering from IIT, Kharagpur and a PhD in computer engineering from the University of Iowa. Prior to becoming a professor, he worked at Intel Corporation, at IBM T. J. Watson Research Center, and at IBM Austin Research Laboratory. Sandip has published over forty technical papers and has participated in program committees of several CAD conferences including DAC, ICCAD, and ICCD.
Aufenthalte
  • 16.01.2006 bis 20.01.2006: Vorträge im Rahmen des Graduiertenkollegs "Eingebette Systeme"
  • 01.07.2004 bis 31.08.2004: Gastprofesssor am Institut für Informatik tätig. Während seines Aufenthalts wird er eine Vorlesung mit dem Titel "Design, Test and Diagnosis in Deep Submicron Technology" anbieten.

Sandip Kundu

Jahre: 2008 | 2007 | 2006 | 2005

    2008

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    • Piet Engelke, Ilia Polian, Michel Renovell, Sandip Kundu, Bharath Seshadri, Bernd Becker
      On Detection of Resistive Bridging Defects by Low-Temperature and Low-Voltage Testing
      2008 IEEE Trans. on CAD, Band: 27, Nummer: 2, Seiten: 327 - 338

    2007

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    • Ilia Polian, Alejandro Czutro, Sandip Kundu, Bernd Becker
      Power Droop Testing
      2007 IEEE Design & Test of Computers, Band: 24, Nummer: 3, Seiten: 276 - 284

    2006

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    • Ilia Polian, Alejandro Czutro, Sandip Kundu, Bernd Becker
      Power Droop Testing
      2006 Int'l Conf. on Computer Design, Seiten: 243 - 250
    • Sandip Kundu, Ilia Polian
      An Improved Technique for Reducing False Alarms Due to Soft Errors
      2006 Int'l On-Line Test Symp., Seiten: 105 - 110

    2005

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    • Sandip Kundu, Matthew Lewis, Ilia Polian, Bernd Becker
      A Soft Error Emulation System for Logic Circuits
      2005 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”, Seiten: 10 - 14
    • Sandip Kundu, Matthew Lewis, Ilia Polian, Bernd Becker
      A Soft Error Emulation System for Logic Circuits
      2005 Conf. on Design of Circuits and Integrated Systems, Seite: 137
    • Sandip Kundu, Piet Engelke, Ilia Polian, Bernd Becker
      On Detection of Resistive Bridging Defects by Low-Temperature and Low-Voltage Testing
      2005 IEEE Asian Test Symp., Seiten: 266 - 269
    • Ilia Polian, Sandip Kundu, Jean-Marc Galliere, Piet Engelke, Michel Renovell, Bernd Becker
      Resistive Bridge Fault Model Evolution From Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies
      2005 VLSI Test Symp., Seiten: 343 - 348
    • Ilia Polian, John P. Hayes, Sandip Kundu, Bernd Becker
      Transient Fault Characterization in Dynamic Noisy Environments
      2005 Int'l Test Conf., Seiten: 10 pp. - 1048