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Name Martin Keim, Dr. Martin Keim, Dr.
eMail Martin_Keim@mentorg.com

Martin Keim

Jahre: 2008 | 2003 | 2002 | 2000 | 1999 | 1998 | 1997 | 1995

    2008

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    • Stefan Spinner, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects
      2008 VLSI Test Symp., Seiten: 181 - 186
    • Stefan Spinner, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Automatic Test Pattern Generation for Interconnect Open Defects
      2008 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    • Stefan Hillebrecht, Ilia Polian, Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim, Wu-Tung Cheng
      Extraction, Simulation and Test Generation for Interconnect Open Defects Based on Enhanced Aggressor-Victim Model
      2008 Int'l Test Conf., Seiten: 1 - 10

    2003

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    • Martin Keim, M. Martin, Bernd Becker, Rolf Drechsler, Paul Molitor
      Polynomial Formal Verification of Multipliers
      2003 Formal Methods in System Design, Band: 22, Nummer: 1, Seiten: 39 - 58

    2002

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    • Ilia Polian, Martin Keim, Nicolai Mallig, Bernd Becker
      Sequential n-Detection Criteria: Keep It Simple!
      2002 IEEE Int'l Online Testing Workshop, Seiten: 189 - 190

    2000

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    • Piet Engelke, Bernd Becker, Martin Keim
      A Parameterizable Fault Simulator for Bridging Faults
      2000 European Test Workshop, Seiten: 63 - 68
    • Martin Keim, Piet Engelke, Bernd Becker
      A Parameterizable Fault Simulator for Bridging Faults
      2000 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”

    1999

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    • Martin Keim, Ilia Polian, Harry Hengster, Bernd Becker
      A Scalable BIST Architecture for Delay Faults
      1999 European Test Workshop, Seiten: 98 - 103
    • Martin Keim, Nicole Drechsler, Bernd Becker
      Combining GAs and Symbolic Methods for High Quality Tests of Sequential Circuits
      1999 ASP Design Automation Conf., Seiten: 315 - 318
    • Bernd Becker, Martin Keim, R. Krieger
      Hybrid Fault Simulation for Synchronous Sequential Circuit
      1999 Jour. Electronic Testing, Band: 3, Seiten: 219 - 238

    1998

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    • Martin Keim, Nicole Göckel, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      Combining GAs and Symbolic Methods for High Quality Tests of Sequential Circuits
      , Nummer: 105/98, 1998
    • Martin Keim, Nicole Drechsler, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      Combining GAs and Symbolic Methods for High Quality Tests of Sequential Circuits
      1998 European Test Workshop, Seiten: 141 - 142
    • Martin Keim, Bernd Becker
      Nearly Exact Signal Probabilities for Synchronous Sequential Circuits - An Experimental Analysis
      , Nummer: 106/98, 1998
    • Martin Keim, Nicole Drechsler, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      Test Generation for (Sequential) Multi-Valued Logic Networks based on Genetic Algorithm
      1998 Int'l Symp. on Multi-Valued Logic, Seiten: 215 - 220
    • Martin Keim, Nicole Göckel, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      Test Generation for (Sequential) Multi-Valued Logic Networks based on Genetic Algorithm
      1998 Int'l Symp. on Multi-Valued Logic

    1997

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    • Nicole Göckel, Martin Keim, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      A Genetic Algorithm for Sequential Circuit Test Generation based on Symbolic Fault Simulation
      1997 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen”
    • Nicole Göckel, Martin Keim, Rolf Drechsler, Bernd Becker
      A Genetic Algorithm for Sequential Circuit Test Generation based on Symbolic Fault Simulation
      1997 European Test Workshop
    • Rolf Drechsler, Martin Keim, Bernd Becker
      Fault Simulation in Sequential Multi-Valued Logic Networks
      1997 Int'l Symp. on Multi-Valued Logic, Seiten: 145 - 150
    • C. Ökmen, Martin Keim, R. Krieger, Bernd Becker
      On Optimizing BIST Architecture by Using OBDD-based Approaches and Genetic Algorithms
      1997 VLSI Test Symp., Seiten: 426 - 431
    • Martin Keim, M. Martin, Bernd Becker, Rolf Drechsler, Paul Molitor
      Polynomial Formal Verification of Multipliers
      1997 VLSI Test Symp., Seiten: 150 - 155

    1995

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    • R. Krieger, Bernd Becker, Martin Keim
      Symbolic Fault Simulation for Sequential Circuits and the Multiple Observation Time Test Strategy
      1995 IEEE Design Automation Conference, Seiten: 339 - 344