Martin Keim, Ilia Polian, Harry Hengster, Bernd Becker A Scalable BIST Architecture for Delay Faults 1999 European Test Workshop, Seiten: 98 - 103 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Bernd Becker Synthesis of Circuits Derived from Decision Diagrams - Combining Small Delay and Testability - 1999 Int'l Symp. on Defect and Fault Tolerance, Seiten: 268 - 275
Harry Hengster, Bernd Becker Synthesis of Fully Testable High Speed Circuits Derived from Decision Diagrams 1998 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Bernd Becker Synthesis of Fully Testable High Speed Circuits Derived from Decision Diagrams 1998 Int'l Workshop on Logic Synth., Seiten: 341 - 345 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Bernd Becker Synthesis of Fully Testable High Speed Circuits Derived from Decision Diagrams , 1997 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Rolf Drechsler, Harry Hengster, H. Schäfer, J. Hartmann, Bernd Becker Testability of 2-Level AND/EXOR Expressions 1997 European Design and Test Conf., Seiten: 548 - 553 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Rolf Drechsler, S. Eckrich, T. Pfeiffer, Bernd Becker AND/EXOR based Synthesis of Testable KFDD-Circuits with Small Depth 1996 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Rolf Drechsler, S. Eckrich, T. Pfeiffer, Bernd Becker AND/EXOR based Synthesis of Testable KFDD-Circuits with Small Depth 1996 IEEE Asian Test Symp., Seiten: 148 - 154 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, U. Sparmann, Bernd Becker, Sudhakar M. Reddy Local Transformations and Robust Dependent Path Delay Faults 1996 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, U. Sparmann, Bernd Becker, Sudhakar M. Reddy Local Transformations and Robust Dependent Path Delay Faults 1996 European Test Workshop » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, U. Sparmann, Bernd Becker, Sudhakar M. Reddy Local Transformations and Robust Dependent Path Delay Faults 1996 Int'l Test Conf. » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Rolf Drechsler, Harry Hengster, H. Schäfer, Bernd Becker Testability of AND/EXOR Expressions 1996 European Test Workshop » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Rolf Drechsler, Bernd Becker AND/OR/EXOR based Synthesis of KFDD-Circuits with Small Depth 1995 Reed-Muller Colloquium UK » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Harry Hengster, Rolf Drechsler, Bernd Becker Testability Properties of Local Circuit Transformations with Respect to the Robust Path-Delay-Fault Model 1994 Int'l Conf. on VLSI Design, Seiten: 123 - 126 » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Bernd Becker, Rolf Drechsler, Harry Hengster, R. Krieger, R. Sinković Binary Decision Diagrams and Testing 1993 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
Bernd Becker, Rolf Drechsler, Harry Hengster Local Circuit Transformations Preserving Robust Path-Delay-Fault Testability , Nummer: 1/93, 1993
Ralf Hahn, Bernd Becker, Harry Hengster The Fault Graph and its Application to Combinational Fault Simulation 1993 GI/ITG Workshop “Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen” » Kurzfassung anzeigen« Kurzfassung verbergen
R. Krieger, Bernd Becker, Harry Hengster lgc++: Ein Werkzeug zur Implementierung von Logiken als abstrakte Datentypen in C++ , 1993