Materialien
Vorlesungsmaterial
Seminar: Zuverlässigkeit mikroelektronischer Systeme - Sommersemester 06
Literatur
| Das Seminar baut auf dem folgenden Buch auf: A. Birolini. Reliability engineering. Theory and practice. Springer, 2004. Ergänzend wird weitere Literatur zur Zuverlässigkeit komplexer digitaler Schaltungen hinzugezogen: • M. Abramovici, M.A. Breuer, A.D. Friedman. Digital systems testing and testable design. IEEE Press, 1990. • E.N. Elnozahy, L. Alvisi, Y.-M. Wang, D.B. Johnson. A survey of rollback-recovery protocols in message-passing systems. ACM Computing Surveys, 2002. • M.G. Pecht and R. Radojic and G. Rao. Managing silicon chip reliability. CRC Press, 1998. • P. Shivakumar and M. Kistler and W. Keckler and D. Burger and L. Alvisi. Modeling the Effect of Technology Trends on the Soft Error Rate of Combinational Logic. In Int’l Conf. on Dependable Systems and Networks, 2002. |